芯片解密過(guò)程中使用的電子探針儀是X射線光譜學(xué)與電子光學(xué)技術(shù)相結(jié)合而產(chǎn)生的。以聚焦的高速電子來(lái)激發(fā)出試樣表面組成元素的特征X射線,對(duì)微區(qū)成分進(jìn)行定性或定量分析的一種材料物理試驗(yàn),又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針?lè)治龅脑硎牵阂詣?dòng)能為10~30千電子伏的細(xì)聚焦電子束轟擊試樣表面,擊出表面組成元素的原子內(nèi)層電子,使原子電離,此時(shí)外層電子迅速填補(bǔ)空位而釋放能量,從而產(chǎn)生特征X射線。
  用波長(zhǎng)色散譜儀(或能量色散譜儀)和檢測(cè)計(jì)數(shù)系統(tǒng),測(cè)量特征X射線的波長(zhǎng)(或能量)和強(qiáng)度,即可鑒別元素的種類和濃度。
  在不損耗試樣的情況下,電子探針通常能分析直徑和深度不小于1微米范圍內(nèi)、原子序數(shù)4以上的所有元素;但是對(duì)原子序數(shù)小于12的元素,其靈敏度較差。常規(guī)分析的典型檢測(cè)相對(duì)靈敏度為萬(wàn)分之一,在有些情況下可達(dá)十萬(wàn)分之一。檢測(cè)的絕對(duì)靈敏度因元素而異,一般為10-14~10-16克。用這種方法可以方便地進(jìn)行點(diǎn)、線、面上的元素分析,并獲得元素分布的圖象。對(duì)原子序數(shù)高于10、濃度高于10%的元素,定量分析的相對(duì)精度優(yōu)于±2%。
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  CY8C20636A-24LTXIT芯片破解
 額外的系統(tǒng)資源
在前面列出了系統(tǒng)資源,其中有些
部分,提供有用的附加功能來(lái)完成
系統(tǒng)。額外的資源,包括低電壓檢測(cè)和
上電復(fù)位。列出每個(gè)系統(tǒng)資源的優(yōu)點(diǎn)
在這里:
I2C從設(shè)備/ SPI主從模塊提供50/100/400
超過(guò)兩條線kHz的通信能力。 SPI通信的多
三或四線運(yùn)行在46.9 kHz至3 MHz的速度(較低
較慢的系統(tǒng)時(shí)鐘)。
I2C硬件地址識(shí)別功能降低
已經(jīng)省去了低功耗
CPU干預(yù),直到數(shù)據(jù)包到目標(biāo)設(shè)備
被接收。
低電壓檢測(cè)(LVD)中斷信號(hào)
下降電壓等級(jí)的應(yīng)用,同時(shí)配備先進(jìn)的POR
(上電復(fù)位)電路消除了系統(tǒng)的需要
監(jiān)事。
內(nèi)部參考提供了一個(gè)絕對(duì)的參考卡帕克
itive檢測(cè)。
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